高天试验设备，多年品质坚守
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| 型号 | GT-TC-80 | GT-TC-150 | GT-TC-225 | GT-TC-500 | GT-TC-800 | GT-TC-1000 |
| 内箱尺寸（WxHxD）mm | 400x500x400 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
| 温度范围 | G：-20℃ ~ +100℃（150℃）；Z：-40℃ ~ +100℃（150℃）；D：-70℃ ~ +100℃（150℃） | |||||
| 结构 | 三箱式（低温区、高温区、测试区） / 两箱式（低温区、高温区、吊篮） | |||||
| 气门装置 | 强制的空气装置气门 / 吊篮 | |||||
| 内箱材质 | 镜面不锈钢 SUS 304 | |||||
| 外箱材质 | 雾面拉丝不锈钢板 / 冷轧钢板烤漆 | |||||
| 测试架 | 不锈钢架 | |||||
| 冷冻系统 | 二段式 | |||||
| 冷却方式 | 半密闭式双段压缩机（水冷式）/全封闭式双段压缩机（风冷式） | |||||
| 高温区温度 | +60 ℃～ +200 ℃ | |||||
| 低温区温度 | -10 ℃～ -80 ℃ /-10 ℃～ -70 ℃ | |||||
| 高温冲击温度范围 | +60 ℃～ +150℃ | |||||
| 低温冲击温度范围 | -10 ℃～ -55 ℃ /-10 ℃～ -65 ℃ | |||||
| 温度均匀度 | ± 2 ℃ | |||||
| 温度波动度 | ± 1.0 ℃ | |||||
| 高温冲击时间 | Rt ～ +150 ℃ /5min | |||||
| 低温冲击时间 | Rt ～ -55 ℃ /5min Rt ～ -65 ℃ /5min | |||||
| 预热时间 | 45min | |||||
| 预冷时间 | 100min | |||||
| 注：另可根据客户的要求设计客户满意的电子元器件高低温冲击测试箱 | ||||||
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